岩石测绘方法

岩石测绘方法主要包括以下几种：

光学测量法

利用光波在岩石中传播的特性，通过测量光波的反射、折射、散射等现象来获取岩石物性参数。

常见的设备包括激光测厚仪、干涉仪等。

适用于多种岩石材料，具有高精度、高灵敏度和非接触式等特点。

电学测量法

通过测量岩石样品中的电导率、电位差、电容等电学参数来间接推算岩石物性参数。

适用于导电性较好的岩石材料，但对于绝缘性较强的岩石则需要采用其他电学测量方法。

常见的设备包括电位计、电流密度法等。

声学测量法

利用声波在岩石中传播的特性，通过测量声波的频率、振幅、衰减等参数来获取岩石物性参数。

常见的设备包括超声波探伤仪、声速计等。

适用于多种岩石材料，但受到环境噪声等因素的影响较大。

力学测量法

通过对岩石样品施加不同的载荷，观察其变形、应力变化等现象来间接推算岩石物性参数。