样品测绘方法

样品测绘方法主要包括以下几种：

使用测量角度和线值的计量仪器进行测量，例如万能工具显微镜等。

这种方法一般为绝对测量，即被测尺寸和角度直接从仪器的刻度尺或分划板上测得。

在检验平台（平板）上利用某些通用量具和辅助量具进行测量。

平台测量法一般为相对测量，即将被测尺寸与标准尺寸（如量块）进行比较，测出被测尺寸对于标准尺寸的差值，从而得到被测尺寸的数值。

根据相对测量的方法不同，平台测量法又可分为百分表法和光隙法两种。

百分表法是以百分表或千分表将被测尺寸与标准尺寸进行比较，测出被测尺寸与标准尺寸之差。

光隙法是以刀口尺或直尺将被测尺寸与标准尺寸进行比较，测出被测尺寸与标准尺寸之差。

通过影像法测量一般样板的尺寸，例如测量图上的样板尺寸A和B。

这些方法的选择取决于被测对象的特点及本单位的设备条件。在实际应用中，可以根据具体情况选择最合适的测量方法以确保测量的准确性和效率。